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芯片加速老化試驗機(jī)采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率。獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設(shè)計（試驗桶內(nèi)空氣排出）提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性. 超長效實驗運(yùn)轉(zhuǎn)時間，長時間實驗機(jī)臺運(yùn)轉(zhuǎn)400小時.水位保。

ED HALT—300SQHAST試驗機(jī)廣泛應(yīng)用于醫(yī)療器件消毒，工業(yè)上線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測.也可運(yùn)用于航天航空、軍工、云端電腦、攝相機(jī)、汽機(jī)車、電動車、高鐵動車、船舶、彩電家電等. 電磁式多軸向多自由度---高加速應(yīng)力篩選機(jī) ED HALT—300SQ / 400SQ / 900SQ / 1200SQ 高效率、低噪度、﹗