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芯片加速老化試驗機采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，降低了使用故障率。獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。門鎖省力結構，解決產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計（試驗桶內空氣排出）提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性. 超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉400小時.水位保。

高壓加速壽命試驗機廣泛應用于醫(yī)療器件消毒，工業(yè)上線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測。

高壓加速壽命試驗箱廣泛應用于醫(yī)療器件消毒，工業(yè)上線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測。

高壓加速試驗箱廣泛應用于醫(yī)療器件消毒，工業(yè)上線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測。

PCT-30，PCT-50高壓加速壽命試驗箱廣泛應用于醫(yī)療器件消毒，工業(yè)上線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測.