產(chǎn)品列表
—— PROUCTS LIST
- esd靜電放電發(fā)生器
- 試驗(yàn)箱設(shè)備
- 射頻傳導(dǎo)測(cè)試儀
- 深圳熒光光譜儀
- XRF熒光光譜儀
- 能量色散X熒光光譜儀
- PCT試驗(yàn)箱
- 高壓加速試驗(yàn)箱
- 高壓加速壽命試驗(yàn)箱
- 鄰苯測(cè)試儀
- 綜合波雷擊浪涌發(fā)生器
- 高效液相色譜儀
- 電磁兼容設(shè)備
- HAST試驗(yàn)箱
- 共模傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試系統(tǒng)
- 電快速脈沖群發(fā)生器
- 試驗(yàn)機(jī)設(shè)備
- 三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
- 二次元測(cè)量?jī)x
- 分光測(cè)色儀
- 氙燈耐氣候試驗(yàn)箱
- 頻率響應(yīng)測(cè)試儀
- 考古檢測(cè)X熒光光譜儀
看完這些就知道線路板HAST試驗(yàn)箱的實(shí)驗(yàn)過程及相關(guān)規(guī)范了
點(diǎn)擊次數(shù)：2130 更新時(shí)間：2025-03-03
線路板HAST試驗(yàn)箱是在非飽和濕度(65%～100%RH可調(diào))、溫度、壓力等條件下，檢測(cè)產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。
一般用來進(jìn)行材料吸濕率試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)等，若待測(cè)品是半導(dǎo)體，則用來測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試，如果半導(dǎo)體封裝的不好，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中，
為了取得更多樣品在HAST試驗(yàn)箱實(shí)驗(yàn)中的信息，HAST實(shí)驗(yàn)中各種應(yīng)力實(shí)驗(yàn)通常選用的先后次序準(zhǔn)則：先實(shí)驗(yàn)破壞性比較弱的應(yīng)力類型，然后再實(shí)驗(yàn)破壞性比較強(qiáng)的應(yīng)力。
所以HAST實(shí)驗(yàn)的通常次序?yàn)椋旱蜏?gt;高溫>疾速溫變循環(huán)>振蕩>溫度與振蕩歸納應(yīng)力。在時(shí)行實(shí)驗(yàn)前，須預(yù)備相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)夾具。
實(shí)驗(yàn)中在每個(gè)溫度點(diǎn)的堅(jiān)持時(shí)刻通常為10分鐘。實(shí)驗(yàn)夾具的規(guī)劃在HALT規(guī)劃開端前，有必要規(guī)劃一個(gè)特別、的夾具。這個(gè)夾具有必要滿意以下兩個(gè)請(qǐng)求：
1、適用于振蕩和溫度實(shí)驗(yàn);
2、能供給適宜的振蕩傳輸率、熱均勻性和均衡的溫度改變率。
那么上面我們說了線路板HAST試驗(yàn)箱的實(shí)驗(yàn)過程，下面我們?cè)賮砹私庖幌聦?duì)該試驗(yàn)箱的規(guī)范要求又有哪些吧。
1、T內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)，復(fù)合安全容器標(biāo)準(zhǔn),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果;
2、備雙層不銹鋼產(chǎn)品架，也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費(fèi)量身定制產(chǎn)品架;
3、準(zhǔn)配備8條試驗(yàn)樣品信號(hào)施加端子，也可以根據(jù)需要增加端子數(shù)量，多具備55條偏壓端子;
4、備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè);
以上便是本次為大家分享的關(guān)于HAST試驗(yàn)箱的試驗(yàn)過程以及相關(guān)的規(guī)范，那么希望在看完本篇之后大家能夠?qū)υ撛囼?yàn)箱有更多更深刻的了解。
